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Hardware-in-the-Loop Test Verification Method for Industrial Microgrid Solutions

Anna Corbitt, Jafet Santivañez, Marcelo Bruno, Junniers Romero, Wesley G. Schwartz,Juan C. Balda, Ricardo de Azevedo, Alessio Ghio, Lauren Wong,H. Alan Mantooth

2024 IEEE Design Methodologies Conference (DMC)（2024）

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关键词
HIL,Industrial,Microgrid,Testing Verification
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生成溯源树，研究论文发展脉络
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