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Study on the Single-Event Burnout Effect Mechanism of SiC MOSFETs Induced by Heavy Ions

Cuicui Liu,Gang Guo, Huilin Shi,Zheng Zhang, Futang Li,Yanwen Zhang,Jinhua Han

ELECTRONICS（2024）

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关键词

SiC MOSFET,heavy ions,temperature,gate damage,single event burnout

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