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Simulation of Trap-Induced Noise Characteristics in 3-Nm Complementary FET

Jinghan Xu,Zheng Zhou,Fei Liu,Xiaoyan Liu

2024 IEEE SILICON NANOELECTRONICS WORKSHOP, SNW 2024（2024）

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关键词
CFET,TCAD,Power Spectral Density
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
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