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On the Intrinsic and Extrinsic Reliability Challenges of SiC MOSFETs

P. Moens,F. Geenen,M. Avramenko, G. Gomez-Garcia, K. Matocha

2024 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS 2024（2024）

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关键词
Reliability,intrinsic,extrinsic,TDDB,ARB,Cosmic Ray
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