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Impact of Gate Oxide Thickness on Flicker Noise (1/f) in PDSOI N-Channel FETs

Shruti Pathak,Sumreti Gupta,Aarti Rathi,P. Srinivasan,Abhisek Dixit

Solid-State Electronics（2024）

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关键词
Flicker noise,Noise model,PDSOI,Thin and thick oxide NFETs,Width scaling
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