Power Semiconductor Failure Analysis Tutorial

G. Johnson,Andreas Rummel, Chengbin Huang,Domenico Mello, F. Hitzel, Heiko Stegmann,Hirotoshi Terada, John Byrnes, Sumanta Goswami

Proceedings（2023）

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摘要

Abstract Presentation slides for the ISTFA 2023 Tutorial session “Power Semiconductor Failure Analysis Tutorial.”

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关键词

failure analysis,semiconductor

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