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先進FinFETのための電力性能信頼性ブースタとしての冷CMOS【JST・京大機械翻訳】

H L Chiang, Tao Chen, J. F. Wang, Subhadeep Mukhopadhyay, W. K. Lee,C. L. Chen,Win-San Khwa, B. Pulicherla, Pin-Wen Liao,K. W. Su,K.F. Yu, Terry Tai-Jui Wang,C H Diaz, Jin Cai

IEEE Conference Proceedings（2020）

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