谷歌浏览器插件
订阅小程序
在清言上使用
VIPCreated with Sketch.

Sources of Error and Methods to Improve Accuracy in Interface State Density Analysis Using Quasi-Static Capacitance–voltage Measurements in Wide Bandgap Semiconductors

B. D. Rummel,J. A. Cooper,D. T. Morisette,L. Yates,C. E. Glaser,A. T. Binder, K. Ramadoss,R. J. Kaplar

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS（2023）

引用 0|浏览26
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要