Random Telegraph Noise Simulation and the Impact on Noise Sensitive Design

M. L. Lu, C. M. Hung, M. L. Fan, Y. S. Huang, C. C. Li, M. S. Yuan,C. H. Chang, C. S. Chiang,K. W. Su,C. K. Lin

International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices（2023）

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TMI,RTN Model

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