同时测试波导传输损耗和弯曲损耗的方法

Zuo-wen Fan,Lian-xi Jia,Zhao-yi Li, Jing-jie Zhou,Qing-yu Cong, Xian-feng Zeng

CHINESE OPTICS（2023）

引用 0|浏览0

暂无评分

摘要

波导的传输损耗是评价集成光学平台性能的一个关键指标.常用的测量传输损耗的cut-back测试方法需引入弯曲波导测试结构.为了去除弯曲损耗的影响,通常会将弯曲半径设计的足够大,但这样会占用很多的版图面积.本文基于铌酸锂平台提出了一种可以同时测试波导传输损耗和弯曲损耗的方法.通过仿真发现波导弯曲损耗与弯曲半径成指数关系,对弯曲损耗取对数值后,与弯曲半径成线性关系.利用遗传算法拟合cut-back结构的插入损耗曲线,并计算得到波导的传输损耗和弯曲损耗.用该方法测量铌酸锂波导,在1550 nm波长下得到0.558 dB/cm的传输损耗和100 μm弯曲半径下0.698 dB/90°的弯曲损耗.利用这种方法可以同时测试波导的传输损耗和弯曲损耗,还可以大大节省占地面积.

查看译文

关键词

propagation loss,bending loss,lithium niobate,genetic algorithm

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

Chat Paper

正在生成论文摘要