夜间135.6nm气辉反演的电离层f0F2与测高仪观测比较研究

在夜间电离层,气辉 135.6 nm谱线主要由F层的O+和电子的辐射复合过程以及O+和O-的中性复合过程激发,该谱线强度和电离层峰值电子密度NmF2 存在很强的相关性.利用夜气辉 135.6 nm辐射强度与F2 层峰值电子密度NmF2 的平方成正比的物理模型,建立了在不同经纬度、地方时、季节和太阳活动下均适用的反演算法.通过DMSP卫星上搭载的紫外光谱成像仪(SSUSI)实际观测的 135.6 nm气辉辐射强度来反演相应时空的电离层F2 层临界频率f0F2,并将其与地基测高仪探测结果做了综合对比.结果表明,在太阳活动高年(2013年),相对误差小于等于 20%的数据占比 93.0%,平均相对误差约为 7.08%;在太阳活动低年(2017年),相对误差小于等于 20%的数据占比 80.8%,平均相对误差约为 12.64%.最后,对该算法在太阳活动高低年的反演精度差异进行了分析.