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A Thermal Model of Low-Temperature Light Detectors for Neutrinoless Double Beta Decay Experiments

S. G. Kim,J. A. Jeon,K. R. Woo,S. R. Kim,D. H. Kwon,H. J. Lee,H. B. Kim,Y. C. Lee,M. B. Kim,M. K. Lee,Y. H. Kim

JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS（2023）

引用 4|浏览35

关键词

Zero-neutrino double beta,Light detector,Thermal model,Ge wafer,Si wafer

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