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The Concept of Safe Operating Area for Gate Dielectrics: the SiC/SiO2 Case Study.

P. Moens,F. Geenen,L. De Schepper,J. F. Cano,J. Lettens, S. Maslougkas,J. Franchi,M. Domeij

2023 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS（2023）

引用 3|浏览11

关键词

Lifetime,Safe Operating Area,SiC,TDDB

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