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Insight into HCI Reliability on I/O Nitrided Devices.

C. Doyen, V. Yon,X. Garros,L. Basset,T. Mota Frutuoso, C. Dagon,C. Diouf,X. Federspiel, V. Millon,F. Monsieur,C. Pribat,D. Roy

2023 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS（2023）

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关键词
Bias Temperature Instability,Hot-carrier injection,nitridation
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样例
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