基于微处理器的可测性设计

Computer Engineering（2002）

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摘要

由于微处理器结构复杂、测试困难,作者在微处理器设计中插入内建自测试(BIST)电路,对指令译码部件的可编程逻辑阵列(PLA)电路和执行部件的控制只读存储器(CROM)电路进行测试.模拟结果表明,微处理器可分别在测试模式与正常工作模式下运行.在测试模式下,微处理器芯片中近40%的晶体管可用自检办法解决.

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