A Physics-Based TCAD Framework for NBTI

Ravi Tiwari,Meng Duan,Mohit Bajaj,Denis Dolgos,Lee Smith,Hiu Yung Wong,Souvik Mahapatra

SOLID-STATE ELECTRONICS（2023）

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关键词

NBTI,RD model,ABDWT model,RDD model,Threshold voltage shift,MOSFETs,TCAD modeling,Hydrogen diffusion,Interface trap generation,Hole trapping,Bulk trap generation

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