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Monte Carlo Analysis of P-Type Si0.75Ge0.25-Channel Nanosheet Performance

F. M. Bufler,H. Arimura,P. Favia,G. Eneman,P. Matagne,N. Horiguchi,G. Hellings

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES（2022）

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关键词
Alloy scattering,Monte Carlo (MC),nanosheet (NS),Si-Ge
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