电子材料超低本底α粒子测试技术及试验研究

LUO Junyang,ZHANG Zhangang,LEI Zhifeng, CHEN Ziwen,PENG Chao,YUE Shaozhong,ZHANG Hong,ZHONG Xiangli,SUN Changhao,HUANG Yiming,HE Yujian,HUANG Yun

Electronic Product Reliability and Environmental Testing（2022）

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摘要

首先,介绍了3种关键的电子材料超低本底α粒子发射测试技术,包括α粒子来源甄别、宇宙射线信号识别和氡气本底来源判别技术;然后,通过进一步地开展试验研究,发现锡铅合金焊料的表面α粒子发射率远高于锡银铜合金焊料,发射能谱分析表明二者发射的α粒子均来自材料自身的210Po核素,而经提纯处理后的合金焊料的表面α粒子发射率显著地下降.研究结果对高可靠性、大规模电子系统α粒子软错误测试和评价,以及提升产品可靠性具有重要的意义.

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