基于微透镜阵列的光场显微测量方法研究
Semiconductor Optoelectronics（2022）
摘要
与传统成像技术相比,光场成像技术能够利用光场中光线的传播方向信息,采用计算成像的方式极大地提高成像系统的景深.而传统的光学显微镜分辨率越高,景深越小.文章结合光场成像技术和传统光学显微镜,通过在显微镜一次像面插入微透镜阵列,提高显微镜景深,实现光场的显微三维测量.该系统通过单次曝光即可获得光场的四维光场信息,通过数字重聚焦技术和清晰度评价函数完成光场显微测量.实验结果表明,基于微透镜阵列的光场显微测量方法是可行的.测量系统以牺牲16倍横向分辨率为代价,将显微镜头景深提高了近100倍.
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