CSR上154 MeV/u C6+离子束分别入射Ti、V、Fe、Ni和Zn靶的X射线辐射

用电子冷却存储环(CSR)提供的能量为165 MeV/u的高能C6+脉冲束分别与Ti、V、Fe、Ni和Zn靶表面相互作用,测量了各靶辐射的K壳层X射线.结果 表明,实验探测到各靶的Kβ和Kα X射线均向高能区发生了不同程度的移动.经分析,X射线发生频移是由靶原子外壳层发生多电离引起的.通过计算各靶K壳层X射线的产生截面,发现该截面随原子序数的增加而减小.将各靶K-X射线产生截面的实验值分别与两体碰撞近似、平面波恩近似和ECPSSR理论值比较,发现现有理论与实验值存在偏差,要准确描述实验结果需要进一步修正.