显微镜后焦面图像的自动识别与分析

微纳结构的表面模式及波导模式等耦合辐射过程,可以被有效地用于在远场研究近场光-物相互作用.而在近场光学表征和高灵敏传感等应用研究过程中,一个优化完善的显微系统可以为研究人员带来便利,同时也让高通量数据存储、测试和分析的实现成为可能.利用模式特征的图像处理过程不但可以完成大量数据的快速自动识别,而且可以实现无人值守的监测和分析.为研究光子晶体结构中的模式特性,通过模式提取完成了光路的自校准;在含荧光探针的耦合辐射当中,利用模式间的配准完成了荧光信号的耦合角度测算;利用表面模式的传感特性完成了对环境折射率变化的监测.研究结果表明,后焦面图像的智能识别可以快速处理海量数据,并完成特定场景下应用的自动分析.