混合イオン-電子導電(MIEC)材料に基づく多層クロスポイントメモリ用新規アクセス素子の耐久性とスケーリング傾向
R. S. Shenoy,Kailash Gopalakrishnan,Bryan L. Jackson,Kumar Virwani,Geoffrey W. Burr,Charles T. Rettner,Alvaro Padilla,Donald S. Bethune,Robert M. Shelby,Andrew J. Kellock,Matthew J. Breitwisch,Eric A. Joseph, R. Dasaka, R. S. King,Khanh Nguyen, A. N. Bowers, M. Jurich,Alexander Friz,Teya Topuria, P. M. Rice, B. N. Kurdi symposium on vlsi technology（2011）
AI 理解论文
溯源树
样例
