Determinação da camada semirredutora e da tensão aplicada a partir de espectros emitidos por um tubo de raios X

Este trabalho descreve um metodo para o calculo de camada semirredutora (CSR) e tensao de pico (kVp) aplicada ao tubo de raios X por meio de espectros medidos utilizando um detector de CdTe. Sao avaliados alguns parâmetros que podem influenciar na determinacao dessas grandezas, tais como, tempo morto, taxa de contagens e valor de corrente anodica utilizado. Para isso, foram medidos dois conjuntos de espectros de raios X: Conjunto A , utilizando filtracao de cobre de diferentes espessuras (1,8 - 5,4 mm) e mantendo fixa a corrente anodica aplicada ao tubo; Conjunto B , mantendo a filtracao de cobre fixa e variando a corrente (0,5 - 3 mA).  As configuracoes de medicoes dos espectros do conjunto A permitiram a avaliacao da kVp e CSR para diferentes taxas de contagens e tempo morto do sistema de deteccao, enquanto o conjunto B permitiu avaliar a dependencia dessas grandezas com a corrente anodica do tubo. Fontes radioativas padrao foram usadas para fazer a calibracao em energia do sistema espectrometrico. Os valores de tensao aplicados ao tubo foram determinados por meio de regressao linear a partir dos espectros medidos buscando o end point de cada um. Os valores de CSR foram determinados a partir dos espectros medidos, apos sua correcao por meio de um metodo de stripping implementado em ambiente Matlab ® . Para comparacao, a CSR tambem foi determinada usando uma câmara de ionizacao de 30 cm 3 e filtros de Al de alta pureza. Os resultados mostram que e possivel determinar a kVp com boa exatidao e reprodutibilidade, utilizando espectros com tempo morto de ate 10%. Apesar disso, os valores obtidos apresentaram desvio de ate 7 kV, para espectros medidos com mesma tensao nominal e diferentes valores de corrente, indicando a dependencia entre esses dois parâmetros