外挿による負バイアス温度不安定性の長期予測のための信頼性のある時間指数【Powered by NICT】
Gao Rui, B Manut Azrif, Ji Zhigang,Ma Jigang,Duan Meng, Zhang Jian Fu,Franco Jacopo,Hatta Sharifah Wan Muhamad, Zhang Wei Dong, Kaczer Ben, Vigar David, Linten Dimitri,Groeseneken Guido IEEE Transactions on Electron Devices（2017）
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