Probing surfaces and interfaces in complex oxide films via in situ X-ray photoelectron spectroscopy

Journal of Materials Research(2020)

引用 0|浏览0
暂无评分
摘要
Abstract
更多
查看译文
关键词
complex oxide films,photoelectron spectroscopy,interfaces,x-ray
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树,研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要