Времяпролетная оптическая диагностика мощных импульсных ионных пучков
Письма в журнал технической физики（2020）
摘要
Ablation of a thin surface contamination layer is used to control fluencies of intense pulsed ion beams. The layer is self-restored after each ion pulse. An optical time-of-flight spectrometer measures velocities of the lightest components of the ablation plasma, hydrogen and carbon, to determine the ion fluence.
更多查看译文
关键词
времяпролетная
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要