基于FPGA与DDS的频率特性测试仪的设计
Electronic Design Engineering（2021）
摘要
为了更好地对被测电路的幅频特性与相频特性进行测量,提出一种基于DDS技术与FPGA设计的频率特性测试仪.该测试仪以FPGA为控制与数据处理的核心,由高性能的DDS技术产生信号,以AD8302来检测频率相位增益,测量了1～90 MHz带宽的频谱特性,有点测与扫频测量两种选择.将测量结果与Matlab仿真的结果进行对照,结果高度吻合;与点测法的测量结果对比,幅频特性测量误差的绝对值小于0.5 dB,相位测量误差不大于3°,且基本实现了测试仪的全数字化、小型化、功耗低、本身操作简便、准确度高、稳定性强,且频率测量范围宽广.
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