基于C单元的低开销SEU加固锁存器设计

随着集成电路工艺水平的提高,软错误逐渐成为影响电路可靠性的主要因素.针对这种情况,提出了一种低开销的SEU锁存器加固结构.该结构基于C单元加入了反馈回路来保证电路的可靠性和减少电路在功耗延时上的开销.仿真结果证明了结构设计的可靠性,对比于前人提出的经典容错结构,本锁存器设计在容错能力上有了很大的进步,且大大减少了开销.