用X射线双晶衍射方法测定GaMnAs组分
CHINESE SCIENCE BULLETIN（2001）
摘要
对计算化合物晶体点缺陷的模型做了改进, 在此基础上建立了一种精确测定GaMnAs中Mn组分的方法, 并且在测定GaMnAs晶格参数的实验过程中, 建立了一种消除X射线衍射仪零点漂移的方法, 提高了测定晶格参数的精确度. 采用该方法测试分析了离子束外延技术制备的GaMnAs单晶中Mn组分.
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