金属氧化物薄膜晶体管电特性参数的提取
Research and Exploration in Laboratory（2018）
摘要
采用磁控溅射法制备了底栅反交叠刻蚀阻挡型(ES)金属氧化物薄膜晶体管(α-IGZO TFT),测试了TFT电流-电压特性曲线.根据TFT的一级近似模型,结合实验数据提出了TFT电特性参数提取方法.在TFT的线性区和饱和区采用线性拟合提取了TFT的场效应迁移率和阈值电压,定义了TFT的开态电流和关态电流,在TFT的亚阈值区分别采用线性拟合和一阶导数的方法提取了TFT的亚阈值摆幅.通过筛选测试条件和数据拟合范围,得到α-IGZO TFT线性区和饱和区场效应迁移率和阈值电压分别为6.27 cm2/V·s和7.7 V;7.24 cm2/V·s和4.3V,α-IGZO TFT的开关比和亚阈值摆幅分别为109和272 mV/dec.
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