小儿脑发育低场磁共振成像技术研究

目的：对小儿脑发育使用低场磁共振成像的技术水平进行探讨和研究。方法：以2014年6月至2015年6月在我院接受检查的300例婴儿为研究对象，按月龄分为7组，测量半卵圆中心的 T2值，分析 T2值与婴儿月龄的关系；用不同的长 TR 序列检查并与 T2WI 对比。结果：T2值变化髓鞘形成变化过程一致，TR 序列的选择与婴儿年龄相关，具体为：新生儿期选择特长 TR 序列，婴儿期选择中长 TR 序列，14月以后可选常规 TR 序列。结论：在观察新生儿及婴儿的脑发育状况时应该使用长 TR 进行衡量。