中颅窝盖板低位的高分辨率 CT“分度标准”构想

目的：观察中颅窝盖板低位对耳后进路清除上鼓室病变的影响，探讨中颅窝盖板低位的分度标准。方法对87例影像科报告中颅窝盖板低位的慢性化脓性中耳炎患者的 CT 图像进行冠状位重建，沿外耳道上壁最高点作水平切线 L1，自该层面出现上半规管结构的最高点作水平切线 L2，沿该层面的中颅窝盖板最低点作水平切线L3，测量 L1～L2距离 a 和 L1～L3距离 b，计算 b／a 值 r，依据 r 值将中颅窝盖板低位分为正常、轻、中、重及绝对低位，与3位手术医生术前评估及手术记录结果进行比较。结果手术医生根据不同的 r 值，不同观点如下：①当r ＜1／4时，不认同影像科提示的中颅窝盖板低位；②当1／4≤r ＜1／3时，认同中颅窝盖板低位，但手术记录中未提及；③当1／3＜r≤1／2时，清除上鼓室病变时均遇到过磨破中颅窝盖板底壁骨质的病例，手术会因为术中止血而受到影响；④当1／2＜r≤3／4时，术前已明显感觉中颅窝盖板低位，在清除上鼓室病变时仍有保留外耳道后壁完整的病例；⑤当 r ＞3／4时，清除上鼓室病变时非常困难，中颅窝盖板低位导致的耳后进路已不可避免的要磨除外耳道后壁。结论可依据 r 值可将中颅窝盖板低位分无、轻、中、重及绝对低位“5度”，轻度对耳后进路清除上鼓室病变无影响，中度耳后进路清除上鼓室病变存在困难，重度经耳后进路清除上鼓室病变部分需要磨除外耳道后壁，绝对低位时磨除外耳道后壁已不可避免。