直流电弧原子发射光谱法测定铌、钽中硅含量

Xiao-min MA,Hui WANG,Bo LI,Bao-lian SUN,Qing-hua LIANG,Wei ZHENG,Kuan WANG

Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analysis（2015）

引用 2|浏览1

暂无评分

摘要

通过直流电弧原子发射光谱仪,配备固体多道光学检测器-电感耦合器件,建立了直流电弧原子发射光谱法测定铌、钽中硅含量的方法.硅的分析线为288.160 nm,铌中硅的缓冲剂为碳粉和氯化银,钽中硅的缓冲剂为碳粉.硅的质量分数在0.001％～0.100％范围内与其光谱强度呈线性关系,相关系数均在0.999 6以上.加标回收率在97.7％～103％之间,测定值的相对标准偏差(n=7)均小于8％.

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

Chat Paper

正在生成论文摘要