CT技术结合MC模拟探测器效率刻度曲线

探测器效率直接关系到物理测量结果的精确度,受生产厂家给出的探测器结构数据完整性、精确性限制,导致不能完整的建立MC模型.利用计算机断层成像装置(CT),完整的呈现探测器内部3D、2D结构图,可测得所有相关结构参数.实验结果表明:Xview X5000型号工业CT测量系统最大分辨率优于1μm,测量的数据与出厂参数相对误差都在±1.5％内;此外,采用不同灰度颜色凸显结构分布,通过3D切片建立2D结构剖面图,可精确的获取探测器内部的形状、位置、尺寸等信息,为MC模拟、物件缺陷检测、结构分析提供了有力的保障.