基于结构特征与LLE算法的数字仪表校验系统
Modern Electronics Technique（2018）
摘要
针对数字仪表校验人工读取数据时存在的误差问题,提出一种基于多特征与局部线性嵌入算法(LLE)结合的数字仪表校验方法.首先将字符图像从RGB转换到HSI色彩空间,在I空间对图像进行分割,并利用投影法分割出单个字符;然后对字符图像提取结构特征,由于单纯的结构特征对字符的描述不足,导致识别精度较低,故文中利用LLE算法对字符二值图像降维,将降维后的像素特征与结构特征相结合;最后,利用支持向量机(SVM)对字符特征进行识别.实验结果显示,所提方法提高了校验系统的字符识别率.
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