开关柜全回路电阻测试方法张远超, 薛强,刘元浩, 周开封,佟智勇Electronics World(2015)引用 0|浏览2暂无评分摘要通过分析开关柜内一次设备的过热原因,在单个设备直流电阻测试的基础上,提出开关柜全回路电阻测试法的概念,并使用该方法测试开关柜内一次设备全回路电阻,判断全回路内一次设备接触情况,查找可能存在的过热缺陷.更多AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要