基于相变单元测试的高速可编程脉冲电流源
Research & Progress of Solid State Electronics（2017）
摘要
基于相变单元电压操作的局限性,提出一种电流编程操作的方法.针对纳秒级快速相变的需求,设计了一款高速可编程的脉冲电流源,采用0.35 μm标准CMOS工艺.结果显示:在10 MHz编程速度的条件下,驱动脉冲电流能够良好地跟随控制信号的脉冲波形;当编程信号频率从500 kHz到10 MHz变化时,输出电流变化为4.5％;当编程电阻从200 Ω到10 kΩ变化时,输出电流精度误差不到3％,芯片面积为0.84 mm2.在高速可编程脉冲电流源的测试平台上,对相变单元进行电流编程操作,结果显示,相变电阻能够可靠地进行晶态-非晶态的高速可逆相变.
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