300mm硅单晶的生长技术

CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS(2001)

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摘要
讨论了300mm硅单晶的工艺控制,分析了拉晶工艺、热屏及磁场对晶体质量的影响。合理的工艺参数是拉制无位错单晶的前提,热屏和磁场的应用有效地控制了晶体的氧含量和微缺陷。
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