谷歌浏览器插件

订阅小程序

在清言上使用

立即登录

学术主页个人账号

我的关注论文收藏浏览历史

Improvement of Cell Reliability by Floating Gate Implantation on 1xnm NAND Flash Memory

Jeng-Hwa Liao,Zong-Jie Ko,Yu-Min Lin,Hsing-Ju Lin,Jung-Yu Hsieh,Ling-Wu Yang,Tahone Yang,Kuang-Chao Chen,Chih-Yuan Lu

Solid-State Electronics（2018）

引用 2|浏览169

关键词

Poly depletion,CG poly-Si fill-in,NAND FLASH memory,Floating gate

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

Chat Paper

正在生成论文摘要