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Effect of High-Temperature Vacuum Degassing on Microstructure and Current-Carrying Capacity of the Bi-2212 Wire

Q. B. Hao,C. S. Li,G. Q. Liu,X. Y. Xu,G. F. Jiao,H. L. Zheng,S. N. Zhang,L. F. Bai

Journal of Alloys and Compounds（2018）

引用 13|浏览76
关键词
Bi-2212 wire,Voids,Vacuum degassing,Critical current density
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