Consequences of the CMR effect on EELS in TEM

Wolfgang Wallisch,Michael Stöger-Pollach,Edvinas Navickas

Ultramicroscopy（2017）

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摘要

•CMR effect influences band gap determination using VEELS.•CMR effect can be detected in EELS using EMCD.•EMCD experiments performed using 40 keV electrons.

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关键词

CMR,VEELS,EMCD,Band gap,Low loss

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