Crack-tip field analyses of silicon using order (N) tight-binding method

T Kugimiya, Y Shibutani,P Gumbsch

mag(2001)

引用 23|浏览2
暂无评分
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树,研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要