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Dynamic Negative Bias Stress Instability Effects in Hafnium Silicon Oxynitride and Silicon Dioxide.

J. K. Mee,R. A. B. Devine,H. P. Hjalmarson,K. Kambour

ECS Transactions（2011）

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关键词
Oxidation Resistance
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
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