双丝脉冲MIG焊接电弧光谱诊断及热源耦合机理分析

搭建了双丝脉冲M IG焊接试验系统，为了分析研究双丝脉冲M IG焊接的热源耦合机理以及电弧温度场，采用光谱技术对其电弧进行了诊断分析，采用中空探针法进行等离子体的辐射采集，得到电弧等离子体的光信号，利用Boltzmann图法计算了双丝脉冲M IG焊接电弧等离子体的电子温度，得出了电弧等离子体的电子温度分布规律，并结合电信号采集和高速摄像技术对电弧进行了综合分析。研究创新之处在于结合了电弧的高速摄像图片信息和电弧等离子体的光信号对双电弧耦合机理进行分析，对电弧温度场进行了较为直观的分析研究。试验结果表明，在本试验条件下焊接过程实现了推挽式输出，实现了一脉一滴的过渡方式；两个电弧在焊接过程中在磁场的作用下相互吸引，向中心发生了偏移，在双电弧的几何中心形成了新的热源中心，并且电弧发生上飘现象；双电弧电子温度整体呈倒V型分布，在双电弧几何中心位置，距工件表面3 mm的位置电弧电子温度最高，为16887.66 K ，比最低温度11963.63 K高大约4900 K。