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A New On-State Drain-Bias TDDB Lifetime Model and HCI Effect on Drain-Bias TDDB of Ultra Thin Oxide

P. J. Liao,Chia Lin Chen, J. W. Young,Y. S. Tsai,C. J. Wang,Kenneth Wu

2008 IEEE International Reliability Physics Symposium（2008）

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关键词
ultra-thin oxide,TDDB,HCI effect on GOX
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