角分辩的光散射轮廓及自仿射分形表面的粗糙指数的实验研究
Guangxue Xuebao/Acta Optica Sinica（2009）
摘要
建立了反射式随机表面的光散射特件实验测量系统,利用多幅平均及叠加连接的方法,得出入射角在45°～85°之间不同值时的光散射轮廓.结果表明,随着表面入射角的增加,光散射轮廓的半峰全宽逐渐减小.并且当入射角的增加到一定值时,光散射轮廓出现中央亮斑.由数学上的对称F降函数,推导出光散射轮廓的半峰全宽随散射光波矢的变化关系,从实验测得角分辩的的光散射轮廓中提取了自仿射分形随机表面的粗糙指数.与原子力显微镜测量得到的粗糙指数进行比较,两者符合得很好.
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关键词
Atomic force microscope,Full width at half-maximum,Roughness exponent,Scatting light intensity scattered profile,Self-affine fractal surface
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