食品级SiO_2中有害元素的发射光谱分析

建立了用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定食品添加剂SiO2中Cr、Co、Ni、As、Cd、Sb、Hg、Pb等有害元素的分析方法。样品用硝酸+氢氟酸分解后,试液直接用ICP-OES法同时测定上述8种元素。研究了基体硅对分析元素的光谱干扰情况和基体效应的影响,确定了仪器的最佳工作参数,通过选择灵敏度高且不受干扰的待测元素谱线为分析线。结果表明:8种待测元素的检出限在1.69~8.33μg/L之间,各待测元素的浓度与信号强度的线性关系良好,线性相关系数R2≥0.999 8,各待测元素的精密度良好,RSD<2.95%,三水平加标回收率为93.3%~102.3%。