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Effects of rapid thermal annealing (RTA) process on pysical and electrical properties of Bi4La4-xTi3O12 (BLT) thin film

Woo Seok Yang,Nam Kyeong Kim,Seung Jin Yeom,Soon Yong Kweon,Eun Seok Choi,Jae Sung Roh

Integrated Ferroelectrics（2006）

引用 6|浏览10
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关键词
microstructures,grain size,thin film,mod
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