Cryogenic Detector Systems for Materials AnalysisJ Hohne, U Hess,M Buhler,F von Feilitzsch,J Jochum,R von Hentig,T Hertrich,C Hollerith,M Huber,J Nicolosi,K Phelan,D Redfern,B Simmnacher,R Weiland,D WernickeJournal de Physique IV (Proceedings)（2002）引用 2|浏览22关键词Nanomaterials Characterization,Materials ResearchAI 理解论文溯源树样例生成溯源树，研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要
