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Performance of a Side-Gap-Triggered Vanadium-Compensated 4H-Sic Photoconductive Switch
Qian Sun, Yutian Wang,Hui Guo, Zhouyang Lin, Zhipeng Chen, Kun Xu, Zhong Zheng,Yuming Zhang
IEEE Transactions on Electron Devicesno. 99 (2025): 1-6
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Ultra-Flexible High-Linearity Silicon Nanomembrane Synaptic Transistor Array
Jiahao Zhu,Chen Liu, Ruiyi Gao,Yuming Zhang, Haonan Zhang, Shiyuan Cheng, Dexing Liu, Jialiang Wang,Qi Liu, Zifan Wang,Xinwei Wang,Yufeng Jin,Min Zhang
ADVANCED MATERIALS（2025）
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Ultrahigh Capacitive Energy Storage in Lead-Free Relaxors Via Localizing Distortion
Liang Chen,Yuming Zhang,He Qi, Ruiyu Wang, Yunxuan Ji, Takumi Nishikubo,Masaki Azuma,Chang Zhou,Jun Chen
ACS nanono. 18 (2025): 17738-17745
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Modified Thermal Model Considering Peltier Effect and Thomson Effect for 4H-Sic GTO Thyristors
Zihan Zhang,Lei Yuan, Yang Liu, Bo Peng, Weiqun Hou,Peng Dong,Jichao Hu, Fawen Li,Xiaoyan Tang,Renxu Jia,Yuming Zhang
IEEE Transactions on Electron Devicesno. 99 (2025): 1-6
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Systematic Investigation on the Performance and Reliability of 4H-Sic MOSFETs with Nonkiller Epitaxial Morphological Defects
Yibo Zhang,Xiaoyan Tang,Hao Yuan, Jingkai Guo,Haohang Yang,Yu Zhou, Fengyu Du, Keyu Liu, Zhiwen Zhang, Chenyu Wang, Aijun Zhang,Qingwen Song,Chao Han,Yuming Zhang
IEEE Transactions on Electron Devicesno. 99 (2025): 1-7
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